Stökkva yfir í aðalyfirlit Stökkva yfir í leit Stökkva yfir í aðalefni

Passivation of Very Fast Near-Interface Traps at the 4H-SiC/SiO2 Interface Using Sodium Enhanced Oxidation

Háskóli Íslands

Rannsóknarafurð: Kafli í bók/skýrslu/ráðstefnuriti › Kafli › ritrýni

Fingerprint

Sökktu þér í rannsóknarefni „Passivation of Very Fast Near-Interface Traps at the 4H-SiC/SiO2 Interface Using Sodium Enhanced Oxidation“. Saman myndar þetta einstakt fingrafar.
Flokka eftir

Material Science